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什么是电子元器件老化筛
？

电子元器件老化筛选是指在一定的情形温度下、较长的时间内对元器件一连施加情形应力

，而情形应力筛
。‥SS：Environment Stress Screen ）则不但包括高温应力

，还包括其他许多应力

，例如温度循环、随机振动等

，通过电-热应力的综相助用来加速元器件内部的种种物理、化学反应历程

，促使隐藏于元器件内部的种种潜在缺陷及早袒露

，从而抵达剔除早期失效产品的目的
。电子元器件老化筛选是属于情形应力筛选的一种
。

电子元器件老化筛选的作用

1. 关于工艺制造历程中可能保存的一系列缺陷

，如外貌沾污、引线焊接不良、沟道泄电、硅片裂纹、氧化层缺陷和局部发热点等都有较好的筛选效果
。

2. 关于无缺陷的元器件

，老化筛选也可促使其电参数稳固
。

电子元器件老化筛选要领

1. 常温静态功率老化

常温静态功率老化就是使器件处在室温下老化
。半导体的PN结处于正偏导通状态

，器件老化所需要的热应力

，是由器件自己所消耗的功率转换而来的
。由于器件在老化历程中受到电、热的综相助用

，器件内部的种种物理、化学反应历程被加速

，促使其潜在缺陷提前袒露

，从而把有缺陷的器件剔除
。这种老化要领无需高温装备

，操作也很轻盈

，因此被普遍接纳
。在器件的清静规模内

，适当加大老化功率（提高器件结温）可以收到更好的老化效果

，并且可以缩短老化时间
。

2. 高温静态功率老化

高温静态功率老化的加电方法及试验电路形式均与常温静态功率老化相同

，区别在于前者在较高的情形温度下举行
。由于器件处在较高的情形温度下举行老化

，集成电路的结温就可抵达很高的温度
。因此

，一样平常说来

，集成电路的高温静态功率老化效果比常温静态功率老化要好
。

我国军用电子元器件标准中明确划定集成电路要举行高温静态功率老化

，详细条件是：在产品标准划定的额定电源电压、额定负载、信号及线路下举行老化
。老化条件是：125±3 ℃

，168h（可凭证需要确定）
。老化历程中至少每8h监测一次
。

3. 高温反偏老化

在高温反偏老化中

，器件的PN结被同时加上高温情形应力和反向偏压电应力

，器件内部无电流或仅有细小的电流通过

，险些不必耗功率
。这种老化要领对剔除具有外貌效应缺陷的早期失效器件特殊有用

，因而在一些反向应用的半导体器件老化中获得普遍的应用
。

4. 高温动态老化

高温动态老化主要用于数字器件

，这种老化要领是在被老化器件的输入端由脉冲信号驱动

，使器件一直地处于翻转状态
。这种老化要领很靠近器件的现实使用状态
。

高温动态老化有两种基本试验电路：串联开关和并联开关试验电路
。

串联开关试验电路又称“环形计数器”电路
。其特点是：把所有受试器件的输出输入端串联起来

，组成一个环形计数电路
。由于前级的输出就是后一级的输入

，即后一级就是前一级的负载

，这就无须外加激励信号和外加负载

，故装备简朴

，容易实现
。弱点是任一被试器件失效

，都会使整个环形系统阻止事情

，使试验中
。直到换上新的试验电路或短接有问题的器件

，试验才恢复正常
。

并联开关试验电路的特点是

，被测器件与激励电源相并联

，因此每个被试器件都能单独由外加的开关电压来驱动

，每个被试器件的输出端均可接一模拟最大值的负载

，从而战胜了串联开关老化的弱点
。

高温动态老化的试验条件一样平常是在最高额定事情温度和最高额定事情电压下老化168～240h
。例如：民用器件通常为几小时

，军用高可靠性器件可选择100～168h

，宇航级器件可选择240h甚至更长的周期
。

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